Persberichten

Mitutoyo komt met nieuwe mogelijkheden voor optische meten en inspecteren 30 mrt 2009

Mitutoyo komt met nieuwe mogelijkheden voor optische meten en inspecteren
De nieuwe generatie Quick Vision beeldverwerkingssystemen

Tot de belangrijkste recente vernieuwingen in het programma van de Japanse fabrikant van meetapparatuur Mitutoyo behoort de nieuwe generatie Quick Vision 3D beeldverwerkingssystemen. Mitutoyo Nederland introduceert deze nieuwe versie tijdens de vakbeurs voor industriële elektronica Electronics & Automation 2009 die van 27 t/m 29 mei a.s. in de Utrechtse Jaarbeurs onderdak vindt. Het is voor de eerste keer dat de Nederlandse vestiging van het Japanse meetconcern aan deze beurs deelneemt. Een tweede noviteit die bij deze gelegenheid wordt voorgesteld is een serie microscoopeenheden voor toepassing in productie-, onderzoeks- en productinspectieapparatuur. 

De Quick Vision serie beeldverwerkingssystemen zijn in de loop van de jaren tachtig ontwikkeld voor nauwkeurige en snelle (seriematige) contactloze meting van kleinere 3D objecten. In de nieuwste versie QVX-404, die tijdens Electronics & Automation wordt gedemonstreerd, wordt ultramoderne optiek toegepast die een substantiële verbetering van de beeldkwaliteit levert vergeleken met eerdere versies. Dit is o.a. te danken aan een sterk verbeterd contrast en een hogere resolutie. Objecten die voorheen niet of moeilijk meetbaar waren, kunnen dat met de verbeterde versie wel. De moderne optiek maakt het nu ook mogelijk randen en punten op meetobjecten te detecteren. Ook is het verlichtingssysteem verder verfijnd. De nieuwe generatie staat voor gebruiksgemak (mede door het QVPAK-softwarepakket), een hoge productiviteit, compactheid en - vanzelfsprekend - een hoge precisie. Deze laatste wordt mede gegarandeerd door het met de Eindige-Elementen Analyse methode geconstrueerde frame, dat een hoge stijfheid met een minimaal gewicht combineert. De precisie gemeten over de verticale as is significant verbeterd door het autofocussysteem. Verschillende voorzieningen maken het mogelijk om op voorheen problematische objecten, zoals doorzichtige onderdelen en spiegelende oppervlakken, scherp te stellen. Ook objectkanten vormen geen probleem meer.
 
De microscoopeenheden die Mitutoyo tijdens de beurs inspecteert, zijn m.n. geschikt voor de inspectie van wafers en CCD ‘s en LCD-panelen van beeldschermen. Speciale aandacht wordt gevraagd voor de microscoopunit FS70 die een rechtopstaand beeld produceert met een vergroting tot 4000x. De unit kan worden uitgerust met een YAG-laser om reparaties uit te voeren aan halfgeleidercircuits en LC-substraten.
 
Naast deze twee noviteiten worden ook andere items uit het Mitutoyo-programma geëxposeerd, zoals het U-Wave systeem voor draadloze dataoverdracht van meetmiddelen naar de pc, waar m.b.v. Excel of Measure Link (het SPC-programma van Mitutoyo) de gegevens worden vastgelegd of geanalyseerd.

Rubrieken